Repositorio Institucional de la Universidad de Oviedo

Surface x-ray diffraction analysis using a genetic algorithm: The case of Sn/Cu(100)-(3v2 × v2)R45°

Autor(es) y otros:

Martínez Blanco, David; Joco, Victor; Quirós Fernández, Carlos; Segovia Cabrero, Pilar; García Michel, Enrique

Fecha de publicación:

2009

Versión del editor:

http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/21/13/134011

Citación:

Journal of Physics Condensed Matter, 21(13), (2009); doi:10.1088/0953-8984/21/13/134011

URI:

http://hdl.handle.net/10651/8979

ISSN:

0953-8984

Identificador local:

20090591

DOI:

10.1088/0953-8984/21/13/134011