Surface Defect System for Long Product Manufacturing Using Differential Topographic Images
Fecha de publicación:
2020
Versión del editor:
Citación:
Sensors, 20(7), p. 2142- (2020); doi:10.3390/s20072142
Descripción física:
p. 2142-
DOI:
Patrocinado por:
This work has been partially funded by the project RTI2018-094849-B-I00 of the Spanish Research Planoriented to Societal Challenges.
Colecciones
- Artículos [34638]
- Informática [751]
- Investigaciones y Documentos OpenAIRE [7551]
Ficheros en el ítem
Métricas
Compartir
Estadísticas de uso
Metadatos
Este ítem está sujeto a una licencia Creative Commons