Comparing temperature measurement using infrared line scanners and the wedge method
Fecha de publicación:
2010
Versión del editor:
Citación:
2010 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2010 - Proceedings, p. 1256-1261 (2010); doi:10.1109/IMTC.2010.5488294
Descripción física:
p. 1256-1261
Descripción:
IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2010 (2010. Austin, TX)
ISBN:
9781424428335
Patrocinado por:
IEEE;IEEE Instrumentation and Measurement Society (I and M);IEEE Central Texas Section
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