Study of surface roughness of CsI:T1 crystals treated by various abrasives
Autor(es) y otros:
Fecha de publicación:
2008
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Citación:
IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, p. 1134-1137 (2008); doi:10.1109/NSSMIC.2008.4774601
Descripción física:
p. 1134-1137
Descripción:
IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record;NSS/MIC (2008. Dresden)
ISBN:
9781424427154
ISSN:
Patrocinado por:
Nuclear and Plasma Sci. Soc. Inst. Electr.and Electron.Eng.;IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society