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Study of surface roughness of CsI:T1 crystals treated by various abrasives

Autor(es) y otros:
Kilimchuk, I. V.; Tarasov, V. A.; Alameda Maestro, José MaríaAutoridad Uniovi
Fecha de publicación:
2008
Versión del editor:
http://dx.doi.org/10.1109/NSSMIC.2008.4774601
Citación:
IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, p. 1134-1137 (2008); doi:10.1109/NSSMIC.2008.4774601
Descripción física:
p. 1134-1137
Descripción:

IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record;NSS/MIC (2008. Dresden)

URI:
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-60449111682&partnerID=40&md5=5252a749a21dd6e058e36a73ffde2ddf
http://hdl.handle.net/10651/35170
ISBN:
9781424427154
ISSN:
1095-7863
DOI:
10.1109/NSSMIC.2008.4774601
Patrocinado por:

Nuclear and Plasma Sci. Soc. Inst. Electr.and Electron.Eng.;IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society

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