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Study of surface roughness of CsI:T1 crystals treated by various abrasives

dc.contributor.authorKilimchuk, I. V.
dc.contributor.authorTarasov, V. A.
dc.contributor.authorAlameda Maestro, José María 
dc.date.accessioned2016-03-11T10:15:27Z
dc.date.available2016-03-11T10:15:27Z
dc.date.issued2008
dc.identifier.citationIEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, p. 1134-1137 (2008); doi:10.1109/NSSMIC.2008.4774601
dc.identifier.isbn9781424427154
dc.identifier.issn1095-7863
dc.identifier.urihttp://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-60449111682&partnerID=40&md5=5252a749a21dd6e058e36a73ffde2ddf
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10651/35170
dc.descriptionIEEE Nuclear Science Symposium Conference Record;NSS/MIC (2008. Dresden)
dc.description.sponsorshipNuclear and Plasma Sci. Soc. Inst. Electr.and Electron.Eng.;IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society
dc.format.extentp. 1134-1137
dc.language.isoeng
dc.relation.ispartofIEEE Nuclear Science Symposium Conference Record
dc.rights©,
dc.sourceScopus
dc.titleStudy of surface roughness of CsI:T1 crystals treated by various abrasives
dc.typeconference outputspa
dc.identifier.doi10.1109/NSSMIC.2008.4774601
dc.relation.publisherversionhttp://dx.doi.org/10.1109/NSSMIC.2008.4774601


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