In-Situ Waviness Characterization of Metal Plates by a Lateral Shearing Interferometric Profilometer
Autor(es) y otros:
Fecha de publicación:
2013
Versión del editor:
Citación:
Sensors, 13(4), p. 4906-4921 (2013); doi:10.3390/s130404906
Descripción física:
p. 4906-4921
ISSN:
Identificador local:
20130493
DOI:
Colecciones
Ficheros en el ítem
![Thumbnail](/dspace/bitstream/handle/10651/18773/In-situ.pdf.jpg?sequence=5&isAllowed=y)