Repositorio Institucional de la Universidad de Oviedo

On-line submicron profile measurements from safe distances with conoscopic holography: feasibility and potential problems

Autor(es) y otros:

Álvarez García, Ignacio; Enguita González, José María; Marina Juárez, Jorge; Fraga Bobis, César

Fecha de publicación:

2008

Versión del editor:

http://dx.doi.org/10.1117/1.2844713

Citación:

Optical Engineering, 47(2), (2008); doi:10.1117/1.2844713

URI:

http://hdl.handle.net/10651/9550

ISSN:

0091-3286

Identificador local:

625

DOI:

10.1117/1.2844713