Propiedades electrónicas de materiales cristalinos observadas mediante difracción resonante de rayos X

Abstract

En este trabajo, se ha llevado a cabo un análisis de datos de difracción resonante de rayos x utilizando un modelo atómico para la detección de ordenamientos de momentos multipolares y magnéticos. Los materiales estudiados son: a) el compuesto gdb4, b) el sistema metal-aislante v2 o3. En el caso del material gdb4, las intensidades de difracción resonante de rayos x son analizadas en términos de las posibles configuraciones magnéticas, teniendo en cuenta posibles transiciones estructurales de fase a grupos de espacio diferentes del grupo de espacio de alta temperatura. El parámetro de orden de la transición cuadrupolar es identificado y a partir de los ajustes de las intensidades calculadas a los datos de que se dispone se obtiene el parámetro que relaciona el momento cuadrupolar con el momento magnético. También se concluye que la simetría del material permite el efecto magnetoeléctrico. Además, se predicen los resultados de un posible experimento de difracción magnética no resonante en una muestra de polvo del compuesto gdb4. En el sistema metal-aislante v2o3 las intensidades medidas son ajustadas a la combinación de las intensidades e2 y e1-e2. Los parámetros atómicos dan información de los momentos octupolar y anapolar de los átomos de vanadio.también se ha realizado una búsqueda de las reflexiones más adecuadas para la realización de un nuevo experimento que aportaría un mejor conocimiento de las contribuciones de tipo e1-e2 a la intensidad [...]