Repositorio Institucional de la Universidad de Oviedo

Common-path two-wavelength interferometer with sub-micron precision for profile measurements in on-line applications

Autor(es) y otros:

Enguita González, José María; Álvarez García, Ignacio; Frade Rodríguez, María; Marina Juárez, Jorge

Fecha de publicación:

2009

Versión del editor:

http://dx.doi.org/10.1117/12.827502

URI:

http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-69949181700&partnerID=40
http://hdl.handle.net/10651/12174

ISSN:

0277-786X

Identificador local:

20090313

DOI:

10.1117/12.827502