| dc.contributor.author | Alonso Rodríguez, Francisco Javier | spa |
| dc.contributor.author | Díaz-Pache Sáenz de Cenzano, Francisco | spa |
| dc.contributor.author | Esbert Alemany, Rosa María | spa |
| dc.contributor.author | Quintana, A. | spa |
| dc.date.accessioned | 2013-01-30T12:36:59Z | |
| dc.date.available | 2013-01-30T12:36:59Z | |
| dc.date.issued | 1995 | spa |
| dc.identifier.citation | XVII Reunión bienal sociedad española de Microscopía Electrónica, (Oviedo), p. 308-309, (1995) | spa |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10651/12035 | |
| dc.language.iso | spa | |
| dc.title | Aplicación del SEM-EDX al estudio de costras y partículas sólidas de contaminación en piedras monumentales | spa |
| dc.type | conference output | spa |
