Repositorio Institucional de la Universidad de Oviedo

Aplicación del SEM-EDX al estudio de costras y partículas sólidas de contaminación en piedras monumentales

Autor(es) y otros:

Alonso Rodríguez, Francisco Javier; Díaz-Pache Sáenz de Cenzano, Francisco; Esbert Alemany, Rosa María; Quintana, A.

Fecha de publicación:

1995

Citación:

XVII Reunión bienal sociedad española de Microscopía Electrónica, (Oviedo), p. 308-309, (1995)

URI:

http://hdl.handle.net/10651/12035