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Pinning field distribution and microstructural study of thermal annealed Fe-Nb-Cu-Si-B wires

dc.contributor.authorOlivera Cabo, Jesús 
dc.contributor.authorIpatov, Mihail
dc.contributor.authorSánchez Rodríguez, María Luisa 
dc.contributor.authorPrida Pidal, Víctor Manuel de la 
dc.contributor.authorVarga, Rastislav
dc.contributor.authorHernando Grande, Blanca 
dc.contributor.authorZhukov, Arcady
dc.date.accessioned2013-01-30T10:09:26Z
dc.date.available2013-01-30T10:09:26Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationIEEE Transactions on Magnetics, 46(2), p. 387-389 (2010); doi:10.1109/TMAG.2009.2033709spa
dc.identifier.issn0018-9464
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10651/8709
dc.format.extentp. 387-389spa
dc.language.isoeng
dc.relation.ispartofIEEE Transactions on Magneticsspa
dc.rights(c) IEEE Transactions on Magnetics
dc.sourceScopusspa
dc.source.urihttp://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-76249086854&partnerID=40&md5=1aa1f5841b8cd2a79be0595a3f8ff1ad
dc.titlePinning field distribution and microstructural study of thermal annealed Fe-Nb-Cu-Si-B wiresspa
dc.typejournal article
dc.identifier.local20100391spa
dc.identifier.doi10.1109/TMAG.2009.2033709
dc.relation.publisherversionhttp://dx.doi.org/10.1109/TMAG.2009.2033709spa


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