Relevance of length scales in exchange biased submicron dots
Autor(es) y otros:
Fecha de publicación:
2009
Versión del editor:
Citación:
Applied Physics Letters, 94(14), 142503(2009); doi:10.1063/1.3114372
ISSN:
Identificador local:
20090638
DOI:
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- Artículos [36307]
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