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Thickness quality control
dc.contributor.author | Enguita González, José María | |
dc.contributor.author | Fraga Bobis, César | |
dc.contributor.author | Cuadrado Vega, Abel Alberto | |
dc.contributor.author | Fernández, Y. | |
dc.contributor.author | Rendueles Vigil, José Luis | |
dc.contributor.author | Vecino, Guillermo | |
dc.date.accessioned | 2015-02-16T12:37:09Z | |
dc.date.available | 2015-02-16T12:37:09Z | |
dc.date.issued | 2006 | |
dc.identifier.citation | IEEE Industry Applications Magazine, 12(2), p. 12-20 (2006); doi:10.1109/MIA.2006.1598022 | |
dc.identifier.issn | 1077-2618 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10651/29734 | |
dc.format.extent | p. 12-20 | spa |
dc.language.iso | eng | spa |
dc.publisher | IEEE | |
dc.relation.ispartof | IEEE Industry Applications Magazine, 12(2) | spa |
dc.title | Thickness quality control | spa |
dc.type | journal article | |
dc.identifier.doi | 10.1109/MIA.2006.1598022 | |
dc.relation.publisherversion | http://dx.doi.org/10.1109/MIA.2006.1598022 |
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