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Secondary Resistive Losses With High-Frequency Injection-Based Self-Sensing in IPM Machines

Autor(es) y otros:
Limsuwan, Natee; Kato, Takashi; Yu, Chen-Yen; Tamura, Jun; Díaz Reigosa, DavidAutoridad Uniovi; Akatsu, Kan; Lorenz, Robert D.
Fecha de publicación:
2013
Versión del editor:
http://dx.doi.org/10.1109/TIA.2013.2256091
Citación:
IEEE Transactions on Industry Applications, 49(4), p. 1499-1507 (2013); doi:10.1109/TIA.2013.2256091
Descripción física:
p. 1499-1507
URI:
http://hdl.handle.net/10651/19674
ISSN:
0093-9994
Identificador local:

20130884

DOI:
10.1109/TIA.2013.2256091
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